用于校準線形的硅粉640e是美國國家標準與技術研究所(NIST)開發(fā)的一種標準參考物質，用于校準粉未衍射儀。個單位的SRM 640e由大約7.5克的硅粉未組成，該硅粉末已在氣氣下裝瓶以保持其純度和穩(wěn)定性。該材料旨在用作確定行射線位置和線形的標準，這是粉末衍射法中的重要參數(shù)。

用于校準線形的硅粉640e的使用有助于確保粉未行射測量的準確性和可靠性，這對包括材料科學、制藥和地質學在內(nèi)的廣泛應用至關重要XRD(X射線行射)內(nèi)標用的高純硅粉在X射線行射分析中扮演著重要的角色。以下是關于XRD內(nèi)標用高純硅粉的詳細信息和特點.:

純度要求:

高純硅粉作為XRD內(nèi)標，其純度要求非常高。這是因為任何雜質都可能影響X射線行射圖譜的準確性和可靠性高純硅粉應幾乎不含有其他雜質元素，如鐵、鋁、鈣等，以確保其在XRD分析中的穩(wěn)定性和準確性。

物理性質:

高純硅粉應具有均勻的粒度分布，以保證在XRD樣品制備過程中的均性和一致性。硅粉的結晶度也是一個重要的物理性質，因為結晶度會影響X射線衍射圖譜的清晰度和分辨率

XRD內(nèi)標作用:

在XRD分析中，高純硅粉作為內(nèi)標物質，其行射峰的位置和強度是已知的，因此可以作為參考來校準和比較其他物質的行射圖譜。

通過將高純硅粉的行射峰與其他物質的衍射峰進行比較，可以準確分析出樣品中其他物質的含量和晶體結構。

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