SRM 1241c 鋁合金5182標(biāo)準(zhǔn)品NIST 主要用于評估儀器分析方法，包括輝光放電發(fā)射光譜法、火花源發(fā)射光譜法和 X 射線熒光光譜法。 SRM 1241c 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 6.3 厘米、厚 1.9 厘米的圓盤組成。鋁合金 5182 也可作為 SRM 854a 以芯片形式提供。

SRM 1241c 中 11 種元素的認(rèn)證值列于表 1。用戶應(yīng)注意，硅 (Si) 給出了兩個(gè)認(rèn)證值，鈦 (Ti) 給出了兩個(gè)認(rèn)證值。 SRM 1241c 的每個(gè)單元都帶有一個(gè)序列號。Si 和 Ti 的正確值是與單元序列號相關(guān)的值。表 2 中列出了兩種元素的參考值。表 3 中列出了三種元素的信息值。對于所有元素，值均以質(zhì)量分?jǐn)?shù)報(bào)告 [1]。賦值類別基于術(shù)語的定義和NIST 用于化學(xué)參考材料的模式 [2]。

認(rèn)證的質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

NIST 認(rèn)證的值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)?NIST 已調(diào)查或說明了所有已知或可疑的偏差來源。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室使用表 4 中列出的測試方法進(jìn)行的分析結(jié)果對真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)值。與值一起列出的不確定度是基于 95% 置信區(qū)間的擴(kuò)展不確定度[3] 并根據(jù) ISO/JCGM 指南 [4] 中的方法計(jì)算。

參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

參考值是未經(jīng)認(rèn)證的值，是對真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。但是，這些值不符合 NIST 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括所有不確定性來源。隨數(shù)值列出的不確定度是基于 95% 置信區(qū)間 [3] 的擴(kuò)展不確定度，根據(jù) ISO/JCGM 指南 [4] 中的方法計(jì)算。

信息質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。

信息值不能用于建立計(jì)量溯源性。

認(rèn)證到期：

SRM 1241c 鋁合金5182標(biāo)準(zhǔn)品NIST  的認(rèn)證在規(guī)定的測量不確定度內(nèi)無限期有效，前提是按照本證書中給出的說明處理和存儲(chǔ) SRM（參見“使用說明"）。因此，不需要定期重新認(rèn)證此 SRM。然而，如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證將失效。

SRM 認(rèn)證的維護(hù)：

NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響本證書認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變更，NIST 將通知購買者。注冊（見附件或在線注冊）將有助于通知。

使用說明

測試面是標(biāo)記面的反面，包括SRM編號和序列號。

該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過認(rèn)證。每個(gè)封裝的磁盤都是通過使用銑床完成測試表面來準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。例如，在 NIST 進(jìn)行輝光放電光發(fā)射測量的準(zhǔn)備工作包括用砂紙研磨表面。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過程可能會(huì)污染表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。